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	安卓手机芯片UFS2.0 BGA95合金翻盖探针测试座适配器 UFS2.0 BGA95合金翻盖探针测试座产品特性：类型：测试及老化(不带PCB)封装：UFS2.0 BGA95PIN数：95针间距:：.65毫适用于IC尺:：1	2023-06-14
	eMMC153/169转SD测试座BGA169烧写编程测试座产品特点：1. 采用标准SD接口模式，通过读卡器与电脑连接或通过编程器SD接口连接实现测试或烧录等相应操作；2. 兼容有球无球测试	2023-06-14
	BGA63-0.8翻盖探针转DIP48测试座烧录座U盘座 BGA63探针测试座转DIP48 量产测试治具翻盖式兼容多尺寸1310.5mm 911mm	2023-06-14